從耦合電容器的結(jié)構(gòu)可知，整臺耦合電容器是由100個左右的單元件串聯(lián)后組成的。就電容量而言，其變化＋10%，在100個單元件如有10個以下的元件發(fā)生短路損壞，還是在允許范圍之內(nèi)。此時，另外90個左右單元件電容要承擔(dān)較高的運行電壓，這對運行中的耦合電容器的絕緣造成了極大的危害。
    造成耦合電容器損壞事故的主要原因，多數(shù)是由于在出廠時就帶有一定的先天缺陷。有的廠家對電容芯子烘干不好，留有較多的水分，或元件卷制后沒有及時轉(zhuǎn)入壓裝，造成元件在空氣中的滯留時間太長，另外，還有在卷制中碰破電容器紙等。個別電容器由于膠圈密封不嚴(yán)，進(jìn)入水分。此時一部分水分沉積在電容器底部，另一部分水分在交流電場的作用下將懸浮在油層的表面，此時如頂部單元件電容器有氣隙，它最容易吸收水分，又由于頂部電容器的場強較高，這部分電容器最易損壞。對損壞的電容器解體后分析得知，電容器表面已形成水膜。由于表面存在雜質(zhì)，使水膜迅速電離而導(dǎo)電，引起了電容量的漂移，介電強度、電暈電壓和絕緣電阻降低，損耗增大，從而使電容器發(fā)熱，最后造成了電容器的失效。所以每年的預(yù)防性試驗測量絕緣電阻、介質(zhì)損耗因數(shù)并計算出電容量是十分必要的。既使絕緣電阻、介質(zhì)損耗因數(shù)和電容量都在合格范圍內(nèi)，當(dāng)單元件電容器有少量損壞時，還不可能及早發(fā)現(xiàn)電容器內(nèi)部存在的嚴(yán)重缺陷。
    電容器的擊穿往往是與電場的不均勻相聯(lián)系的，在很大程度上決定于宏觀結(jié)構(gòu)和工藝條件，而電容器的擊穿就發(fā)生在這些弱點處。電容器內(nèi)部無論是先天缺陷還是運行中受潮，都首先造成部分電容器損壞，運行電壓將被完好電容器重新分配，此時每個單元件上的電壓較正常時偏高，從而導(dǎo)致完好的電容器繼續(xù)損壞，最后導(dǎo)致電容器擊穿。
    為減少耦合電容器的爆炸事故發(fā)生，對運行中的耦合電容器應(yīng)連續(xù)監(jiān)測或帶電測量電容電流，并分析電容量的變化情況。